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Dura Kelvin:Multitest發(fā)布超長壽命和清洗周期的測試座用于集成設(shè)備

發(fā)布時間:2011-07-07 來源:電子產(chǎn)品世界

產(chǎn)品特性:

  • 超長使用壽命和清洗周期
  • 受檢合格率高達(dá)98.5%

應(yīng)用范圍:

  • 集成設(shè)備測試


面向世界各地的集成設(shè)備制造商(IDM)和最終測試分包商,設(shè)計和制造測試分選機、測試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司,日前欣然宣布其Dura® Kelvin測試座顯著降低了總體測試成本。在一家國際性IDM大批量生產(chǎn)廠,再次證明Dura® Kelvin測試座在超長的使用壽命和清洗周期方面名不虛傳。

在項目期限內(nèi),首檢合格率和清洗頻率都受到了監(jiān)控。Dura® Kelvin明顯超過了所有目標(biāo),使用壽命已超過4百萬次插撥,這是設(shè)定目標(biāo)的四倍以上。首檢合格率從95%提高到98.5%。真正令人贊嘆的是與清洗頻率相關(guān)的成就。

Dura® Kelvin 僅需要在大約100個小時之后清洗。與原來的測試單元配置相比,這使與清洗相關(guān)的測試單元停機時間降低了90%。尤其對于低溫測試而言,這具有重要影響。
 

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