【導(dǎo)讀】大功率系統(tǒng)需要并聯(lián) IGBT來處理高達(dá)數(shù)十千瓦甚至數(shù)百千瓦的負(fù)載,并聯(lián)器件可以是分立封裝器件,也可以是組裝在模塊中的裸芯片。這樣做可以獲得更高的額定電流、改善散熱,有時(shí)也是為了系統(tǒng)冗余。部件之間的工藝變化以及布局變化,會(huì)影響并聯(lián)器件的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)電流分配。
大功率系統(tǒng)需要并聯(lián) IGBT來處理高達(dá)數(shù)十千瓦甚至數(shù)百千瓦的負(fù)載,并聯(lián)器件可以是分立封裝器件,也可以是組裝在模塊中的裸芯片。這樣做可以獲得更高的額定電流、改善散熱,有時(shí)也是為了系統(tǒng)冗余。部件之間的工藝變化以及布局變化,會(huì)影響并聯(lián)器件的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)電流分配。
本白皮書將探討IGBT并聯(lián)的技術(shù)要點(diǎn),第一篇“IGBT的并聯(lián)知識(shí)點(diǎn)梳理:靜態(tài)變化、動(dòng)態(tài)變化、熱系數(shù)”,我們介紹了靜態(tài)變化、動(dòng)態(tài)變化、熱系數(shù)。本文將繼續(xù)介紹柵極電阻、經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
關(guān)于柵極驅(qū)動(dòng)和返回路徑的阻抗匹配問題,已有很多論述。眾所周知,阻抗匹配越好,IGBT 的功率和電流均衡就越好。
關(guān)于這個(gè)問題的大多數(shù)討論,都建議必須使用單獨(dú)的柵極驅(qū)動(dòng)電阻。為每個(gè) IGBT 提供一個(gè)柵極電阻可降低并聯(lián)器件之間發(fā)生振蕩的可能性,但同時(shí)也會(huì)增加器件的開通和關(guān)斷時(shí)間及特性曲線的差異性。
如果使用一個(gè)共用柵極電阻,在不引起振蕩的情況下,電流波形將更加匹配,因?yàn)閮蓚€(gè)柵極同時(shí)處于相同的電位。
圖 1 和圖 2 顯示了兩個(gè)并聯(lián)運(yùn)行的 IGBT,分別使用了單獨(dú)和共用的柵極電阻。
圖 1. 獨(dú)立柵極電阻的關(guān)斷波形
圖 2. 共用柵極電阻的關(guān)斷波形
我們特意挑選了特性不同的 IGBT 進(jìn)行測試,以便在使用不匹配的器件時(shí)可以看出它們之間的差異。有關(guān)所使用的 IGBT 測試的更多信息,請參見下面的 "經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù) "部分。 上面標(biāo)有 IGBT 編號的波形是集電極電流,下面的曲線是集電極電壓。 在此測試中,使用兩個(gè) 22 Ω 電阻進(jìn)行驅(qū)動(dòng),并帶有單獨(dú)的柵極電阻;使用一個(gè) 11 Ω 電阻進(jìn)行驅(qū)動(dòng),并帶有共用柵極電阻。IGBT為 40 A、600 V、NGTB40N60IHL 器件。 從示波器截圖中可以看出,盡管共用柵極電阻不會(huì)對電流均衡產(chǎn)生影響,但它確實(shí)大大改善了開關(guān)波形的匹配。 如果器件之間出現(xiàn)振蕩,則有必要為每個(gè) IGBT 使用單獨(dú)的電阻;即使在這種情況下,也可以使用一個(gè)共用電阻與單獨(dú)的電阻串聯(lián)。
圖 3. 共用柵極電阻和單獨(dú)柵極電阻結(jié)合使用
圖 3 所示電路采用了共用和單獨(dú)柵極電阻的組合。一旦構(gòu)建完成,可以很容易地在兩個(gè)極端之間調(diào)整電阻值,以盡可能地匹配開關(guān)特性,同時(shí)消除兩個(gè) IGBT 之間的振蕩。 對一組 NGTB40N60IHL IGBT 進(jìn)行序列化,并測試了導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗。然后根據(jù)導(dǎo)通損耗和總開關(guān)損耗繪制了這些數(shù)據(jù)。選擇兩組器件。1 號和 26 號單元用于測試不同的器件,2 號和 27 號單元用于測試相似的器件。
圖 4. NGTB40N60IHL IGBT 樣品的散點(diǎn)圖
以下三個(gè)示波器軌跡顯示了兩個(gè)最佳匹配器件(2 號、26 號)的集電極-發(fā)射極電壓和集電極電流
圖 5. 匹配器件的開通波形
盡管兩個(gè)器件非常匹配,但開啟時(shí)的電流還是存在差異。不過,這種不平衡不會(huì)持續(xù)很長時(shí)間,由于VCE(sat)參數(shù)的匹配,穩(wěn)態(tài)電流基本相等。
圖 6. 匹配器件的關(guān)斷波形
圖 7. 匹配器件的脈沖波形
從上述波形可以看出,盡管兩個(gè)器件的導(dǎo)通曲線并不相同,但電流趨于一致,關(guān)斷波形也完全相同。使用單個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電阻重現(xiàn)圖 7,波形沒有變化。 還應(yīng)注意的是,我們是根據(jù)總開關(guān)損耗對IGBT進(jìn)行匹配的,因此單個(gè)開通和關(guān)斷損耗可能并不完全匹配。
圖 8. 不匹配器件的開通波形
圖 9. 不匹配器件的關(guān)斷波形
圖 10. 不匹配器件的脈沖波形
對于不匹配的 IGBT,開通和關(guān)斷的路徑相似,但導(dǎo)通電流在整個(gè)脈沖持續(xù)時(shí)間內(nèi)存在顯著差異。 雖然最好能有完美適配的器件,但也可以容忍一定程度的參數(shù)差異。熱管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)必須考慮到這些差異。VCE(sat)參數(shù)對兩個(gè)(或多個(gè))器件之間的功率損耗差異影響最大。 上述所有波形均使用 11 Ω 的公共柵極電阻。
測試電路板
圖 11. 用于并聯(lián)測試的測試板和散熱器
此設(shè)置用于測試IGBT并生成本應(yīng)用說明中的波形。盡量匹配兩個(gè)IGBT之間的阻抗。雖然有兩個(gè)驅(qū)動(dòng)器,但實(shí)際測試中只使用了一個(gè),因此驅(qū)動(dòng)器不會(huì)造成時(shí)序差異。
圖 12. 測試電路圖
并聯(lián)器件檢查清單 盡可能匹配電氣阻抗。 盡可能匹配熱阻抗。 保持較高的柵極驅(qū)動(dòng)電壓。 使用公共柵極電阻器,除非發(fā)生振蕩。
本應(yīng)用說明討論了與并聯(lián) IGBT 相關(guān)的幾個(gè)問題。選擇較高的柵極驅(qū)動(dòng)電壓和正確的柵極電阻配置,對于電流均衡與匹配的熱布局和電氣布局同樣重要,參考本文探討的信息將有助于確保設(shè)計(jì)的可靠性。
文章來源:安森美
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